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金相显微镜
数码型 JM-90DIC 如有疑问,请马上点击→

JM-90DIC特点说明

1  采用了UIS高分辨率、长工作距离无限光路校正系统的物镜成像技术。

2  拓展了物镜的复用技术,无限远物镜与所有观察法相兼容包括明暗视野法、偏光法,并在每一种 观察法中均提供高清晰的图像质量。

3  采用非球面Kohler照明,增加观察亮度。

4  WF10XΦ25)超大视野目镜,长工作距离明暗场金相物镜。

5  可插DIC微分干涉装置的转换器。

JM-90DIC大平台工业显微镜配有大移动范围的载物台、落射照明器、平场无限远长工作距离明暗场物镜、大视野目镜、图像清晰,衬度好。是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、治金工业开发的,作为高级工业显微镜使用。可进行明暗场观察、落射偏光、DIC观察,广泛用于工厂、研究机构、高等院校对硅片、电路基板、FPD、精密模具的检测分析。

JM-90技术规格            

观察头

  30°铰链式三目(50mm-75mm

目镜

  WF10×/25mm 超大视野物镜

  WF10×/20mm,0.1mm十字分划板

转换器

  DIC插孔明暗场五孔转换器

物镜

  平场无限远长工作 距离明暗场物镜:5×/0.1B.D/W.D.29.4mm 

                                                                    10×/0.25B.D/W.D.16mm

                                                                    20×/0.40B.D/W.D.10.6mm

                                                                    40×/0.60B.D/W.D.5.4mm

平台

  双层移动平台

  平台尺寸: 350mm×310mm

  移动范围:250mm×250mm

滤色片

  插板式滤色片(绿、蓝、磨砂玻璃)

调焦

  粗、微动同轴调焦,采用齿轮齿条传动机构 微动格值0.002mm

光源

  落射照明:带孔径光栏和视场光栏,卤素灯12V/100WAC85V-230V亮度可调节

偏光装置

  检偏镜可360度转动,起偏镜、检偏镜均可移出光路

校准工具

  0.01mm物镜测维台尺

可供附件

  目镜:WF15×/17mmWF20×/12.5mm 可扩展光学放大倍数至1500倍或2000

 300万、500万像素CMOS摄像装置

  平场无限远长工作距离明暗场物镜:50×/0.55B.D/W.D.5.1mm

  80×/0.75B.D/W.D.4mm100×/0.80B.D/W.D.3mm

   二维测量软件 任意平面几何尺寸测量、保存

  专业金相图像分析软件 金相组织分析专用

  DIC10×20×40×100×

  摄影CCD接口0.5×0.57×0.75×

  压平机

 

 

  
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